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微波半導體芯片綜合參數在片測試系統

文(wen)章來(lai)源:中國電子科(ke)技(ji)集團公司  發布時間:2024-05-20

127.微波半導體(ti)芯(xin)片綜合參(can)數在(zai)片測試系統

【所屬領域】分析測試儀器

【中央企(qi)業名稱】中國電子科技集團公司

【成果簡介】

本產(chan)(chan)品(pin)(pin)采用基于(yu)(yu)相(xiang)干信號(hao)的負(fu)載(zai)牽(qian)引以及基于(yu)(yu)矢量(liang)誤差修正(zheng)的噪聲(sheng)系(xi)數測(ce)(ce)(ce)量(liang)方案(an),具(ju)(ju)有(you)連續波及脈(mo)沖S參數、等(deng)功率圓、等(deng)效(xiao)率圓、噪聲(sheng)系(xi)數、交調等(deng)參數的在片(pian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)功能,以及在片(pian)校準(zhun)功能。產(chan)(chan)品(pin)(pin)測(ce)(ce)(ce)試功能豐(feng)富(fu),具(ju)(ju)有(you)反射系(xi)數調諧范圍大、測(ce)(ce)(ce)量(liang)速度快、校準(zhun)算法精確等(deng)特點。廣泛應用于(yu)(yu)微波功率芯(xin)片(pian)、低噪聲(sheng)芯(xin)片(pian)、濾波芯(xin)片(pian)設計(ji)、生(sheng)產(chan)(chan)、檢(jian)驗(yan)等(deng)環節,為芯(xin)片(pian)設計(ji)優化、工藝改進、生(sheng)產(chan)(chan)檢(jian)驗(yan)提供測(ce)(ce)(ce)試支撐作用。產(chan)(chan)品(pin)(pin)技術成熟度達到8級。

【主要指標】

(一)頻(pin)率范圍:10MHz~67GHz

(二)等噪聲系(xi)數圓頻率(lv)測量范(fan)圍:10MHz~67GHz

(三)噪聲(sheng)系數測量范(fan)圍:≥30dB

(四)Smith圓圖(反射系數)最大(da)調諧范(fan)圍(wei):≥0.99

(五)探針間距精度:±25μm

(六(liu))校(xiao)準片類型:TRL、SOLT校(xiao)準片等系列

【應用推廣需求】

(一)應(ying)用推廣方式:銷售(shou)

(二)應用推廣領(ling)域:本產品(pin)應用于微波(bo)半導(dao)體(ti)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)的芯(xin)(xin)片(pian)(pian)設計、芯(xin)(xin)片(pian)(pian)制造、芯(xin)(xin)片(pian)(pian)檢驗、芯(xin)(xin)片(pian)(pian)應用等產業環節,滿足微波(bo)半導(dao)體(ti)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)、微波(bo)集成電路(MMIC)等微波(bo)半導(dao)體(ti)芯(xin)(xin)片(pian)(pian)的測試需求。

【成果圖片】

【聯系人】

集團聯系人:丁一(yi)牧,010-84352395(13552993699),dingyimu@vip.163.com

成(cheng)果聯系人:汪(wang)定(ding)華,18505528366,m13910851102@163.com

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【責任編輯:王莉】

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