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微波半導體芯片綜合參數在片測試系統

文章來源:中國電(dian)子(zi)科技集(ji)團公司  發(fa)布時間:2024-05-20

127.微波半導體芯(xin)片綜合參數在片測試系統

【所(suo)屬領域(yu)】分析測試(shi)儀器

【中央(yang)企業名稱】中國電子(zi)科技集團公司

【成果簡介】

本產(chan)品(pin)采用(yong)基于相干信號的(de)負載牽引以及(ji)(ji)基于矢量誤差修正的(de)噪聲系(xi)(xi)數(shu)(shu)測(ce)量方(fang)案(an),具(ju)有連續(xu)波及(ji)(ji)脈沖S參數(shu)(shu)、等(deng)功(gong)(gong)率(lv)(lv)圓、等(deng)效率(lv)(lv)圓、噪聲系(xi)(xi)數(shu)(shu)、交調(diao)等(deng)參數(shu)(shu)的(de)在(zai)片(pian)(pian)(pian)測(ce)量功(gong)(gong)能,以及(ji)(ji)在(zai)片(pian)(pian)(pian)校準功(gong)(gong)能。產(chan)品(pin)測(ce)試(shi)功(gong)(gong)能豐(feng)富,具(ju)有反(fan)射(she)系(xi)(xi)數(shu)(shu)調(diao)諧范圍(wei)大、測(ce)量速度快、校準算法精確(que)等(deng)特點。廣泛應(ying)用(yong)于微波功(gong)(gong)率(lv)(lv)芯片(pian)(pian)(pian)、低噪聲芯片(pian)(pian)(pian)、濾波芯片(pian)(pian)(pian)設計(ji)、生(sheng)產(chan)、檢驗等(deng)環節,為芯片(pian)(pian)(pian)設計(ji)優化(hua)、工藝改進、生(sheng)產(chan)檢驗提供測(ce)試(shi)支(zhi)撐作用(yong)。產(chan)品(pin)技術(shu)成熟度達到8級。

【主要指標】

(一)頻率范圍(wei):10MHz~67GHz

(二(er))等噪聲(sheng)系(xi)數圓頻率(lv)測量范圍:10MHz~67GHz

(三(san))噪聲系數測量范圍:≥30dB

(四)Smith圓圖(反射(she)系數)最大調諧范圍:≥0.99

(五)探針間距精度:±25μm

(六)校準(zhun)片(pian)類(lei)型:TRL、SOLT校準(zhun)片(pian)等(deng)系列

【應用推廣需求】

(一(yi))應用推廣方(fang)式:銷售

(二)應(ying)用(yong)推廣領域:本(ben)產(chan)品應(ying)用(yong)于微波半導體芯(xin)片(pian)(pian)(pian)的芯(xin)片(pian)(pian)(pian)設計、芯(xin)片(pian)(pian)(pian)制造、芯(xin)片(pian)(pian)(pian)檢(jian)驗、芯(xin)片(pian)(pian)(pian)應(ying)用(yong)等產(chan)業環節(jie),滿足微波半導體芯(xin)片(pian)(pian)(pian)、微波集成(cheng)電(dian)路(MMIC)等微波半導體芯(xin)片(pian)(pian)(pian)的測試需求(qiu)。

【成果圖片】

【聯系人】

集(ji)團聯系人:丁(ding)一牧,010-84352395(13552993699),dingyimu@vip.163.com

成果聯(lian)系(xi)人(ren):汪定華,18505528366,m13910851102@163.com

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【責任編輯:王莉】

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