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127.微(wei)波(bo)半導體(ti)芯片綜合參數在片測試系(xi)統

【所屬領域(yu)】分(fen)析測(ce)試儀器

【中(zhong)央企業名稱】中(zhong)國(guo)電子科技集(ji)團公司

【成果簡介】

本產品(pin)采用基(ji)于(yu)相干信號的負(fu)載牽引以及基(ji)于(yu)矢量(liang)誤差修正(zheng)的噪聲系數(shu)測量(liang)方案，具有連(lian)續波及脈沖S參數(shu)、等(deng)(deng)功(gong)率(lv)圓、等(deng)(deng)效率(lv)圓、噪聲系數(shu)、交調(diao)等(deng)(deng)參數(shu)的在(zai)片測量(liang)功(gong)能，以及在(zai)片校(xiao)準功(gong)能。產品(pin)測試(shi)功(gong)能豐富，具有反射系數(shu)調(diao)諧范圍大、測量(liang)速度快(kuai)、校(xiao)準算法精確等(deng)(deng)特點(dian)。廣(guang)泛應用于(yu)微(wei)波功(gong)率(lv)芯(xin)片、低噪聲芯(xin)片、濾波芯(xin)片設計、生(sheng)產、檢驗(yan)等(deng)(deng)環(huan)節，為芯(xin)片設計優化(hua)、工藝改(gai)進、生(sheng)產檢驗(yan)提供測試(shi)支撐(cheng)作用。產品(pin)技術(shu)成熟度達到(dao)8級。

【主要指標】

（一(yi)）頻率范(fan)圍：10MHz～67GHz

（二）等噪聲系數圓頻率測(ce)量(liang)范圍：10MHz～67GHz

（三）噪聲系數測量范圍(wei)：≥30dB

（四）Smith圓圖（反射系數）最(zui)大調諧范圍：≥0.99

（五(wu)）探針間距精度：±25μm

（六）校(xiao)準(zhun)片(pian)類型：TRL、SOLT校(xiao)準(zhun)片(pian)等(deng)系(xi)列

【應用推廣需求】

（一）應用推廣方式：銷(xiao)售

（二）應(ying)(ying)用推廣領域(yu)：本產品應(ying)(ying)用于微(wei)波(bo)半(ban)導體芯片(pian)的芯片(pian)設計、芯片(pian)制造、芯片(pian)檢驗、芯片(pian)應(ying)(ying)用等產業環節，滿足微(wei)波(bo)半(ban)導體芯片(pian)、微(wei)波(bo)集成電(dian)路（MMIC）等微(wei)波(bo)半(ban)導體芯片(pian)的測試需求。

【成果圖片】

【聯系人】

集(ji)團(tuan)聯系人：丁(ding)一牧，010-84352395（13552993699），dingyimu@vip.163.com

成果聯(lian)系人：汪定華，18505528366，m13910851102@163.com

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【責任編輯：王莉】